Ausschreibungen für Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) in Deutschland

Beschaffung und Integration moderner Prosumer-Kameratechnik der Sony FS- und FX-Serie zur Ablösung vorhandener EB-Kamerasysteme. Die neue Technik soll den aktuellen Anforderungen an eine zeitgemäße, flexible und effiziente Medienproduktion gerecht werden und dabei die bestehenden Produktionsabläufe sowie die vorhandenen System- und Infrastrukturstrukturen des NDR berücksichtigen.

Lieferung eines Delta 13C Isotopen Analysators zur Messung von CO2 und CH4 sowie deren Veränderungen. Das Gerät soll sowohl fest montiert als auch als Laborgerät genutzt werden. Feldtauglichkeit und geringer Platzbedarf sind prioritär. Simultane Messung von CO2, H2O und CH4.

Lieferung von 1x M3 Vakuumkammer gemäß technischer Spezifikation für die SoTeXS-Beamline am Helmholtz-Zentrum Berlin.

Lieferung und Inbetriebnahme eines Umgebungsdrucknahen-Ultraviolett-Photoelektronen-Spektrometers zur zeitaufgelösten winkelabhängigen In-situ-Analytik von Elektronen(shutteln) in wässriger Phase.

Lieferung und Inbetriebnahme einer hochpräzisen, digital gesteuerten X-Band-Mikrowellenbrücke (Betriebsbereich 9-10 GHz; Magnetfeldstärke ca. 0,3 T) zur Ergänzung und Weiterentwicklung eines CW/Puls EPR Spektrometers im Rahmen eines Forschungsprojekts.

Lieferung eines Hochleistungs-Faserlasersystems mit niedriger Rauschcharakteristik zur Erzeugung eines optischen Tweezerarray bei einer Wellenlänge von 813 nm. Ausgangsleistung: >15W bei ~813nm, Zentralwellenlänge: 813.428nm, Durchstimmbarkeit: >+/-0.075nm, Modensprungfrei (>3GHz), Linienbreite: 1MHz, Bandbreite für Wellenlängenänderung Piezo: >5kHz.

Lieferung eines OP-Mikroskops für den OP-Bereich der Klinik für plastische Chirurgie. Die anzubietenden Geräte und Schnittstellen, sowie die geplanten Interventionen und Untersuchungen sind im Leistungsverzeichnis beschrieben.

Beschaffung eines Zweiphotonenmikroskops

Lieferung, Installation und betriebsbereite Aufstellung eines modernen Röntgendiffraktometers zur strukturellen Charakterisierung kristalliner Materialien (Pulver, polykristalline Proben, Dünnschichtproben, kleine Einkristalle). Das Gerät soll für den Einsatz in der materialwissenschaftlichen und festkörperphysikalischen Forschung geeignet sein und die zuverlässige Bestimmung von Phasenbestand, Kristallstruktur, Gitterparametern, Kristallinität, Textur sowie strukturellen Änderungen ermöglichen.

Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops sowie Einweisung in den Betrieb. Zusätzlich Wartungs- und Serviceleistungen für zwei Jahre nach Abnahme sowie optionale Wartung für ein Jahr (max. 3 Mal).